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快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

 性能特點(diǎn) 
■ 測(cè)試頻率：10Hz-130MHz
■ 高精度：采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，四端對(duì)測(cè)試配置
■ 高穩(wěn)定性和一致性
■ 高速度：*快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度
■ 高分辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800
■ 點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測(cè)試方式
■ 1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能
■ 四參數(shù)測(cè)量
■ 自動(dòng)電平控制（ALC）功能
■ 4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有14種分屏顯示方式
■ 強(qiáng)大的分選：LCR模式10檔分選
■ 圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選
■ 高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

 應(yīng)用
■ 無源元件：
   電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。
■ 半導(dǎo)體元件：
   LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件：
   印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估
■ 介質(zhì)材料：
   塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估
■ 磁性材料：
   鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估
■ 半導(dǎo)體材料：
   半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
■ 液晶單元：
  介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性